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掉電保護在嵌入式系統中的設計應用
在嵌入式系統設計過程中，系統的掉電保護越來越受到重視。本文介紹的方法是在用ARM7系列芯片S3C4510B和μClinux構建的嵌入式平臺上實現的。整個掉電保護實現的基本思路是：產生掉電信號，捕捉掉電信號和處理掉電信號。重點介紹這個過程的具體實現。
2012-01-06
掉電保護 嵌入式系統 ARM7
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Digi-Key 擴展與 Microsemi 的全球經銷合作關系
Digi-Key 公司是一家知名電子元件經銷商，被設計師們譽為業內最廣泛的電子元件庫，提供立即發貨服務，近日擴展了與 Microsemi 公司的經銷關系，業務合作覆蓋可編程邏輯解決方案，具體包括該公司的 SmartFusion? 可定制系統單晶片 (cSoC) 產品、低功率現場可編程門陣列 (FPGA) 器件以及相關評估板系列。
2012-01-06
Digi-Key Microsemi 可編程邏輯 SoC FPGA
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CMMB移動數字電視終端的設計
較強的干擾易對CMMB移動接收的性能產生嚴重影響。一個系統性能的穩定性不僅由芯片性能、天線性能以及PCB Layout決定，還涉及到空間的各種干擾等等。如果在設計中不注意干擾的抑制，往往性能會有非常大的損失。設計一個性能優異的CMMB移動數字電視終端，需要綜合考慮很多因素，本文將作詳細討論。
2012-01-06
CMMB 移動數字電視 干擾 天線
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由單相有源功率因數校正（APFC）組合成三相APFC的幾種方法
若能將單相APFC電路簡單整合成一個三相APFC電路，將能充分利用成熟的單相控制芯片，制作出滿足要求的三相APFC裝置。下面介紹幾種由單相APFC組合成三相APFC的方法。
2012-01-06
功率因數校正 PFC 有源功率因數校正 APFC
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二極管泄漏電流及MOSFET亞閾區電流的測量
測試半導體器件和晶圓片（Wafer）常常要涉及到測量小電流。其中有些測試工作包括各種泄漏電流的測量。另一些對于晶圓片級半導體的弱電流測量則通常與介電材料（氧化物或化合物）的質量有關。這些弱電流測量工作常常使用靜電計或源-測量單元。本文將介紹使用源-測量單元測量二極管的泄漏電流以及MOSF...
2012-01-06
二極管 泄漏電流 MOSFET 亞閥區電流
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測試SDRAM控制器的PDMA
現代電子信息設備往往需要保存和處理大量的數字信息，一個高性能的Memory控制器可以大大提高系統的性能。在進行SDRAM控制器的設計時，需要考慮很多因素，設計完成以后還要進行多項測試看是否完全滿足所要求的各項性能，為此我們設計了一個PDMA（Programmable Direct Mem o ry Access）用于測試SDRAM...
2012-01-06
SDRAM控制器 PDMA RTL仿真 PCI
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T/H解調和斬波運放電路應用研究
本文在0.35微米N阱工藝的基礎上，設計了單電源供電的全差分斬波運放電路，同時，為了減小殘余電壓的失調，采用了T/H(跟蹤-保持)解調技術，該電路在斬波頻率150KHz工作時，輸入等效噪聲達到31.12nV/Hz。
2012-01-06
差分斬波 運放 T/H解調
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